半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ

半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ

ハンドウタイ ブヒン ノ シンライセイ : コウシンライカ ノ レキシ ト フィールド データ

荒井英輔, 塩野登編著 ; 岩根眼藏 [ほか] 著

東京 : 丸善プラネット, 2013.8

図書等

巻号情報

No. 所在 請求記号 資料ID 資料タイプ 状況(返却予定日) コレクション 備考 予約・取り寄せ人数

1

549.8-A62

10013017983

一般図書

詳細情報

刊年

2013

形態

viii, 344p : 挿図 ; 30 cm

注記

その他の著者: 中野好典, 植木武美, 平岡一則, 小川清, 福田光男, 久慈憲夫, 水沢武, 嶋屋正一, 山口力

出版国

日本

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

荒井, 英輔 (アライ, エイスケ)

塩野, 登(1947-) (シオノ, ノボル)

岩根, 眼藏 (イワネ, ガンゾウ)

ISBN

9784863451728

NCID

BB13216182