Application of atom probe to microstructure analysis of thin film materials

Application of atom probe to microstructure analysis of thin film materials

Masaya Kodzuka

[Tsukuba-shi] : [Kodzuka, Masaya], [2012]

図書等

巻号情報

No. 所在 請求記号 資料ID 資料タイプ 状況(返却予定日) コレクション 備考 予約・取り寄せ人数

1

DA06035-2011

10012000159

本学論文

詳細情報

刊年

2012

形態

ii, 116 p. : ill. (some col.) ; 30 cm

注記

Thesis (Ph. D. in Engineering)--University of Tsukuba, (A), no. 6035, 2012.3.23

Includes bibliographical references

出版国

日本

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

小塚, 雅也 (コズカ, マサヤ) [ Kodzuka, Masaya ] [ Kozuka, Masaya ]

分類

CAL:DA06035