LSI ノ シンライセイ
二川清編著 ; 塩野登 [ほか] 著
東京 : 日科技連出版社, 2010.10
図書等| No. | 所在 | 請求記号 | 資料ID | 資料タイプ | 状況（返却予定日） | コレクション | 備考 | 予約・取り寄せ人数 |
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1 |
549.7-N73
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10010017395 |
一般図書 |
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2010
viii, 183p, 図版 [2] p : 挿図 ; 21cm
LSIの信頼性
その他の著者: 横川慎二, 福田保裕, 三井泰裕
監修者: 信頼性技術叢書編集委員会
参考文献: 章末
日本
日本語 (jpn)
日本語 (jpn)
二川, 清(1949-) (ニカワ, キヨシ) [ 二川, 清 (ニカワ, キヨシ) ]
塩野, 登(1947-) (シオノ, ノボル)
横川, 慎二(1970-) (ヨコガワ, シンジ)
福田, 保裕(1953-) (フクダ, ヤスヒロ)
三井, 泰裕(1944-) (ミツイ, ヤスヒロ)
信頼性技術叢書編集委員会 (シンライセイ ギジュツ ソウショ ヘンシュウ イインカイ)
NDC8:549.7
NDC9:549.7
9784817193636
BB03841227
TRC : 10056318
