A study on device characterization of polycrystalline-silicon thin-film transistors

A study on device characterization of polycrystalline-silicon thin-film transistors

Hiroyuki Ikeda

[Tsukuba] : [Ikeda, Hiroyuki], [2010]

図書等

巻号情報

No. 所在 請求記号 資料ID 資料タイプ 状況(返却予定日) コレクション 備考 予約・取り寄せ人数

1

DA05285-2009

10010003868

本学論文

詳細情報

刊年

2010

形態

187 p. : ill. (some col.) ; 31 cm

注記

Thesis (Ph. D. in Engineering)--University of Tsukuba, (A), no. 5285, 2010.3.25

Includes bibliographical references

出版国

日本

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

池田, 裕幸 (イケダ, ヒロユキ) [ Ikeda, Hiroyuki ]

分類

CAL:DA05285