シンリ テスト ノ カクリツ モデル
ゲオルク・ラッシュ著 ; 内田良男監訳
名古屋 : 名古屋大学出版会, 1985.8
図書等| No. | 所在 | 請求記号 | 資料ID | 資料タイプ | 状況（返却予定日） | コレクション | 備考 | 予約・取り寄せ人数 |
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1 |
140.7-R17
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10085603019 |
一般図書 |
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1985
xxviii, 237p, 図版[1]枚 : 挿図 ; 21cm
Probabilistic models for some intelligence and attainment tests
著者の肖像あり
文献: p229-231
日本
日本語 (jpn)
日本語 (jpn)
英語 (eng)
Rasch, G. (Georg), 1901- [ Rasch, Georg ] [ ラッシュ, G ] [ ラッシュ, ゲオルグ ]
内田, 良男 (ウチダ, ヨシオ)
NDC8:140.7
NDLC:SB31
493068935X
BN00541130
NBN : JP86056536
