Two-site substrate recognition model for the Keap1-Nrf2 system : a hinge and latch mechanism in oxidative stress response

Two-site substrate recognition model for the Keap1-Nrf2 system : a hinge and latch mechanism in oxidative stress response

Two-site substrate recognition model for the Keap1-Nrf2 system : a hinge and latch mechanism in oxidative stress response

Kit Leng Ton

[Tsukuba] : [s.n.], [2007]

図書等

巻号情報

No. 所在 請求記号 資料ID 資料タイプ 状況(返却予定日) コレクション 備考 予約・取り寄せ人数

1

DA04409-2006

10007007180

本学論文

詳細情報

刊年

2007

形態

xii, 165, [3] leaves, [65] p. : ill. (some col.) ; 31 cm

並列書名

Keap1-Nrf2システムにおける2つの部位基質認識モデル : 酸化ストレス応答の蝶番と掛け金メカニズム

注記

"2006"

Thesis (Ph. D. in Medical Sciences)--University of Tsukuba, (A), no. 4409, 2007.3.23

Accompanied by 7 subarticles

Includes bibliographical references

出版国

日本

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

Tong, Kit Leng

分類

CAL:DA04409

NDC9:491.42