Fundamentals of nanoscale film analysis

Fundamentals of nanoscale film analysis

Terry L. Alford , Leonard C. Feldman , James W. Mayer

New York : Springer, c2007

図書等

巻号情報

No. 所在 請求記号 資料ID 資料タイプ 状況（返却予定日） コレクション 備考 予約・取り寄せ人数

1
431.86-A41

10007000251

授業関連

2
431.86-A41

10007000252

一般図書

詳細情報

刊年

2007

形態

xiv, 336 p. : ill , 25cm

出版国

アメリカ合衆国

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

Alford, Terry L.

Feldman, Leonard C.

Mayer, James W.

分類

SG:510

ISBN

9780387292601/0387292608

NCID

BA81782437

番号

LCCN : 2005933265

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