ザンリュウ オウリョク ノ Xセン ヒョウカ : キソ ト オウヨウ
田中啓介, 鈴木賢治, 秋庭義明共著
東京 : 養賢堂, 2006.7
図書等| No. | 所在 | 請求記号 | 資料ID | 資料タイプ | 状況（返却予定日） | コレクション | 備考 | 予約・取り寄せ人数 |
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1 |
501.32-Ta84
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10006016653 |
一般図書 |
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2006
vii, 363p ; 21cm
Evaluation of residual stresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications
残留応力のX線評価 : 基礎と応用
Evaluation of residual sresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications
参考文献: 各章末
欧文タイトルは標題紙裏による
欧文タイトル (誤植): Evaluation of residual sresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications
日本
日本語 (jpn)
日本語 (jpn)
田中, 啓介(1943-) (タナカ, ケイスケ) [ Tanaka, K. ] [ Tanaka, Keisuke ]
鈴木, 賢治(1958-) (スズキ, ケンジ)
秋庭, 義明(1959-) (アキニワ, ヨシアキ)
NDC9:501.32
484250384X
BA77874054
