Oxide reliability : a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability

Oxide reliability : a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability

editor, D. J. Dumin

Singapore ; New Jersey ; London ; Hong Kong : World Scientific, c2002

図書等

巻号情報

No. 所在 請求記号 資料ID 資料タイプ 状況（返却予定日） コレクション 備考 予約・取り寄せ人数

1
549.8-D96

10006009172

一般図書

2
549.8-D96

10006015590

一般図書

詳細情報

刊年

2002

形態

ix, 270 p. : ill. ; 26 cm

シリーズ名

Selected topics in electronics and systems ; v. 23

出版国

シンガポール

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

Dumin, D. J.

ISBN

9810248423

NCID

BA56959953

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