Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures : phonons, plasmons, and polaritons

Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures : phonons, plasmons, and polaritons

Mathias Schubert

Berlin : Springer, c2004

図書等

巻号情報

No. 所在 請求記号 資料ID 資料タイプ 状況(返却予定日) コレクション 備考 予約・取り寄せ人数

1

420.8-Sp8-209

10004018670

一般図書

詳細情報

刊年

2004

形態

xi, 193 p. : ill. ; 24 cm

シリーズ名

Springer tracts in modern physics : Ergebnisse der exakten Naturwissenschaften / editor, G. Höhler ; v. 209

注記

Includes bibliographical references at the end of each chapter

Includes index

出版国

ドイツ=ドイツ連邦共和国

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

Schubert, Mathias

ISBN

3540232494

NCID

BA70013703

番号

LCCN : 2004113130