入射イオン・電子弁別可能新開発半導体イオン検出器を用いたイオン絶対量計測器の開発

入射イオン・電子弁別可能新開発半導体イオン検出器を用いたイオン絶対量計測器の開発

ニュウシャ イオン デンシ ベンベツ カノウ シンカイハツ ハンドウタイ イオン ケンシュツキ オ モチイタ イオン ゼッタイリョウ ケイソクキ ノ カイハツ

平田真史研究代表者

[つくば] : 平田真史, 2004.3

図書等

巻号情報

No. 所在 請求記号 資料ID 資料タイプ 状況(返却予定日) コレクション 備考 予約・取り寄せ人数

1

539.62-H68

10004007848

本学

詳細情報

刊年

2004

形態

1冊 ; 30cm

シリーズ名

科学研究費補助金基盤研究(C)(2)研究成果報告書 ; 平成14-15年度

注記

研究課題番号: 14580512

研究代表者: 平田真史

出版国

日本

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn) ; 英語 (eng)

著者情報

平田, 真史 (ヒラタ, マフミ)

NCID

BA68435031

番号

KAKEN : 14580512