陽電子消滅によるGaN系半導体の点欠陥の研究

陽電子消滅によるGaN系半導体の点欠陥の研究

ヨウデンシ ショウメツ ニヨル GaNケイ ハンドウタイ ノ テン ケッカン ノ ケンキュウ

上殿明良研究代表者

[つくば] : [上殿明良], 2003.5

図書等

巻号情報

No. 所在 請求記号 資料ID 資料タイプ 状況(返却予定日) コレクション 備考 予約・取り寄せ人数

1

428.4-U33

10003601478

本学

詳細情報

刊年

2003

形態

98p ; 30cm

シリーズ名

科学研究費補助金基盤研究(C)(2)研究成果報告書 ; 平成13年度-平成14年度

注記

研究課題番号: 13650332

出版国

日本

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn) ; 英語 (eng)

著者情報

上殿, 明良(1961-) (ウエドノ, アキラ)

NCID

BA66772336

番号

KAKEN : 13650332