ヒョウメン ブンセキ SIMS : ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ ノ キソ ト オウヨウ
D.ブリッグス, M.P.シーア編 ; 志水隆一, 二瓶好正監訳 ; 新SIMS研究会訳
東京 : アグネ承風社, 2003.7
図書等| No. | 所在 | 請求記号 | 資料ID | 資料タイプ | 状況（返却予定日） | コレクション | 備考 | 予約・取り寄せ人数 |
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1 |
428.4-B73
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10003004939 |
一般図書 |
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2003
xix, 429p : 挿図 ; 21cm
Practical surface analysis. Volume2: Ion and neutral spectroscopy
引用文献: 各章末
Practical surface analysis.Volume2:Ion and neutral spectroscopy 原著第2版の抄訳
日本
日本語 (jpn)
日本語 (jpn)
英語 (eng)
Briggs, D. [ ブリッグス, D (ブリッグス, D) ]
Seah, M. P. [ シーア, M. P. (シーア, M. P.) ]
志水, 隆一 (シミズ, リュウイチ)
二瓶, 好正(1940-) (ニヘイ, ヨシマサ) [ Nihei, Yoshimasa, 1940- ]
新SIMS研究会 (シン シムス ケンキュウカイ)
NDC8:428.4
NDC9:428.4
4900508101
BA62889819
TRC : 03035371
